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離子束刻蝕(IBE)技術(shù)研究
點(diǎn)擊量:710 日期:2023-08-03 編輯:硅時(shí)代
1.離子束刻蝕(IBE)技術(shù)的原理?
離子束刻蝕(IBE,Ion Beam Etching)也稱為離子銑(IBM,Ion Beam Milling),也有人稱之為離子濺射刻蝕,是利用輝光放電原理將氬氣分解為氬離子,氬離子經(jīng)過(guò)陽(yáng)極電場(chǎng)的加速對(duì)樣品表面進(jìn)行物理轟擊,以達(dá)到刻蝕的作用??涛g過(guò)程即把Ar氣充入離子源放電室并使其電離形成等離子體,然后由柵極將離子呈束狀引出并加速,具有一定能量的離子束進(jìn)入工作室,射向固體表面轟擊固體表面原子,使材料原子發(fā)生濺射,達(dá)到刻蝕目的,屬純物理刻蝕。工件表面有制備溝槽的掩膜,最后裸露的部分就會(huì)被刻蝕掉,而掩膜部分則被保留,形成所需要的溝槽圖形。
離子束刻蝕使高方向性的中性離子束能夠控制側(cè)壁輪廓,優(yōu)化納米圖案化過(guò)程中的徑向均勻性和結(jié)構(gòu)形貌。另外傾斜結(jié)構(gòu)可以通過(guò)傾斜樣品以改變離子束的撞擊方向這一獨(dú)特能力來(lái)實(shí)現(xiàn)。
在離子束刻蝕過(guò)程中,通常情況下,樣品表面采用厚膠作為掩模層,刻蝕期間富有能量的離子流會(huì)使得基片和光刻膠過(guò)熱。為了便于后面光刻膠的剝離清洗,一般需要對(duì)樣品臺(tái)進(jìn)行冷卻處理,使整個(gè)刻蝕過(guò)程中溫度控制在一個(gè)比較好的范圍。
圖1 離子束刻蝕設(shè)備結(jié)構(gòu)圖
圖2 離子束刻蝕工藝原理圖
2.離子束刻蝕(IBE)適合的材料體系?
可用于刻蝕加工各種金屬(Ni、Cu、Au、Al、Pb、Pt、Ti等)及其合金,以及非金屬、氧化物、氮化物、碳化物、半導(dǎo)體、聚合物、陶瓷、紅外和超導(dǎo)等材料。
目前離子束刻蝕在非硅材料方面優(yōu)勢(shì)明顯,在聲表面波、薄膜壓力傳感器、紅外傳感器等方面具有廣泛的用途。
3. 離子束刻蝕(IBE)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)?
a 優(yōu)點(diǎn):
(1)方向性好、無(wú)鉆蝕、陡直度高;
(2)刻蝕速率可控性好,圖形分辨率高,可達(dá)0.01um;
(3)屬于物理刻蝕,可以刻蝕各種材料(Si、SiO2、GaAs、Ag、Au、光刻膠等);
(4)刻蝕過(guò)程中可改變離子束入射角來(lái)控制圖形輪廓,加工特殊的結(jié)構(gòu);
b 缺點(diǎn):
(1)刻蝕速率慢、效率比ICP更低;
(2)難以完成晶片的深刻蝕;
(3)屬于物理刻蝕,常常會(huì)有過(guò)刻的現(xiàn)象。